MATRIX CORRECTION OF SILICEOUS SAMPLES BY MEANS OF COMPTON-SCATTERING PEAKS FOR ENERGY-DISPERSIVE X-RAY-FLUORESCENCE ANALYSIS

被引:6
作者
SPATZ, R [1 ]
LIESER, KH [1 ]
机构
[1] TECH HSCH DARMSTADT,FACHBEREICH ANORGAN CHEM & KERNCHEM,D-6100 DARMSTADT,FED REP GER
来源
FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1978年 / 293卷 / 01期
关键词
D O I
10.1007/BF00481996
中图分类号
O65 [分析化学];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
摘要
引用
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页数:5
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