MEASUREMENT OF DIFFUSION IN SEMICONDUCTORS BY A CAPACITANCE METHOD

被引：14

作者：

MCAFEE, KB

SHOCKLEY, W

SPARKS, M

机构：

来源：

PHYSICAL REVIEW | 1952年 / 86卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRev.86.137

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：137 / 138

页数：2

相关论文

共 4 条

[1]

DUNLAP WC, 1952, B AM PHYS SOC, V27

[2]

MCAFEE, 1951, PHYS REV, V83, P650

[3]

PEARSON G, COMMUNICATION

[4]

SHOCKLEY W, 1949, BELL SYST TECH J, V28, P335