ELECTRON-BEAM ION-SOURCE AND SOME POSSIBILITIES FOR IMPROVEMENT

被引：16

作者：

BECKER, R

SCHMIDT, W

KLEIN, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1972.4326643

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：125 / &

共 13 条

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