PROBING THE QUESTION OF TECHNOLOGY-INDUCED RISK

被引：10

作者：

MORGAN, MG

机构：

来源：

IEEE SPECTRUM | 1981年 / 18卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1109/MSPEC.1981.6369675

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：58 / 64

页数：7

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共 4 条

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