ROOM-TEMPERATURE ANNEALING OF IONIZATION-INDUCED DAMAGE IN CMOS CIRCUITS

被引：23

作者：

HABING, DH ^{[1
]}

SHAFER, BD ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA LABS,ALBUQUERQUE,NM 87115

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1973年 / NS20卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1973.4327412

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：307 / 314

页数：8

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共 10 条

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