FAULT MODELING AND LOGIC SIMULATION OF CMOS AND MOS INTEGRATED-CIRCUITS

被引：247

作者：

WADSACK, RL

机构：

来源：

BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL | 1978年 / 57卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1002/j.1538-7305.1978.tb02106.x

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1449 / 1474

页数：26

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