Stress analysis by X-ray diffraction

被引：5

作者：

Barrett, C. S. ^{[1
]}

Gensamer, M. ^{[1
]}

机构：

[1] Carnegie Inst Technol, Met Res Lab, Pittsburgh, PA USA

来源：

PHYSICS-A JOURNAL OF GENERAL AND APPLIED PHYSICS | 1936年 / 7卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1745339

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1 / 8

页数：8

共 12 条

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ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1930, 64 (5-6) :344-358