ELECTRIC PROBE MEASUREMENTS ON MICROSTRIP

被引：32

作者：

DAHELE, JS ^{[1
]}

CULLEN, AL ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV LONDON UNIV COLL,DEPT ELECTR & ELECT ENGN,LONDON WC1E 7JE,ENGLAND

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1980.1130162

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：752 / 755

页数：4

共 5 条

[1]

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[2]

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