NEW METHOD FOR MEASURING PROPERTIES OF DIELECTRIC MATERIALS USING A MICROSTRIP CAVITY

被引：20

作者：

ITOH, T ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,DEPT ELECT ENGN,URBANA,IL 61801

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES | 1974年 / MT22卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1974.1128287

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：572 / 576

页数：5

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共 14 条

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