MANIPULATION OF THE FOURIER COMPONENTS OF SPECKLE FRINGE PATTERNS AS PART OF AN INTERFEROMETRIC ANALYSIS PROCESS

被引：55

作者：

KERR, D

SANTOYO, FM

TYRER, JR

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1080/09500348914550241

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：195 / 203

页数：9

共 8 条

KERR, D ;

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