CALIBRATION REQUIREMENTS FOR MIRAU AND LINNIK MICROSCOPE INTERFEROMETERS

被引：34

作者：

BIEGEN, JF

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1989年 / 28卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.28.001972

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1972 / 1974

页数：3

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共 4 条

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