LIFETIME MEASUREMENT OF DS-MESONS

被引:16
作者
BECKER, H
BOHRINGER, T
BOSMAN, M
CASTILLO, V
CHABAUD, V
BUCHHOLZ, D
DAMERELL, C
DAUM, C
DIETL, H
FAWCETT, H
GILL, S
GILLMAN, A
GILMORE, R
GOOCH, T
GORLICH, L
HAJDUK, Z
HYAMS, BD
KELSEY, DP
KEMMER, J
KLANNER, R
KOTZ, U
KWAN, S
LUTJENS, G
LUTZ, G
MALOS, J
MANNER, W
NEUGEBAUER, E
PALKA, H
PEPE, M
RICHARDSON, J
DERIJK, G
RYBICKI, K
SEEBRUNNER, HJ
STIERLIN, U
TIECKE, HG
TURALA, M
WALTERMANN, G
WATTS, S
WEILHAMMER, P
WICKENS, F
WIGGERS, LW
WYLIE, A
ZELUDZIEWICZ, T
机构
[1] MAX PLANCK INST PHYS,D-8000 MUNICH 40,FED REP GER
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关键词
D O I
10.1016/0370-2693(87)90582-X
中图分类号
P1 [天文学];
学科分类号
0704 ;
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页数:6
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[1]   MEASUREMENT OF THE LIFETIME OF CHARGED AND NEUTRAL D-MESONS WITH HIGH-RESOLUTION SILICON STRIP DETECTORS [J].
BAILEY, R ;
BELAU, ER ;
BOHRINGER, T ;
BOSMAN, M ;
CHABAUD, V ;
DAMERELL, C ;
DAUM, C ;
DIJKSTRA, H ;
GILL, S ;
GILLMAN, A ;
GILMORE, RS ;
HAJDUK, Z ;
HARDWICK, C ;
HOOGLAND, W ;
HYAMS, BD ;
KEMMER, J ;
KLANNER, R ;
KOTZ, U ;
KWAN, SWL ;
LUTJENS, G ;
LUTZ, G ;
MALOS, J ;
MANNER, W ;
NEUGEBAUER, E ;
PALKA, H ;
PEPE, M ;
RICHARDSON, J ;
DERIJK, G ;
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RYBICKI, K ;
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STIERLIN, U ;
TAPPER, RJ ;
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ROZANSKA, M ;
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LUTJENS, G ;
LUTZ, G ;
MALOS, J ;
MANNER, W ;
NEUGEBAUER, E ;
ROZANSKA, M ;
RYBICKI, K ;
SEEBRUNNER, HJ ;
STIERLIN, U ;
TAPPER, RJ ;
TIECKE, HG ;
TURALA, M ;
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