MEASUREMENT OF CRYSTALLITE SIZE AND STRAIN OF ELECTROPLATED FILMS

被引：14

作者：

SMITH, RS

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1147/rd.42.0205

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：205 / 207

页数：3

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共 4 条

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