IMPROVED PHASE SHIFT TECHNIQUE FOR MEASURING SHORT CARRIER LIFETIME IN SEMICONDUCTORS

被引：4

作者：

HWANG, CJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685296

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1084 / &

相关论文

共 5 条

[1] INTERFEROMETRIC PHASE SHIFT TECHNIQUE FOR MEASURING SHORT FLUORESCENT LIFETIMES
CARBONE, RJ
LONGAKER, PR
[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS, 1964, 4 (02) : 32 - &
[2] LIFETIMES OF BOUND EXCITONS IN CDS
HENRY, CH
NASSAU, K
[J]. PHYSICAL REVIEW B, 1970, 1 (04): : 1628 - &
[3] MOMA YA, 1967, INSTRUM EXPER TECH-U, P198
[4] SUSHKOV VP, 1969, MAR MUN C
[5] ZBAROVSKII AA, 1965, INSTRUM EXP TECH, P1256