MICROBREAK LENGTH, PERFORMANCE, AND STRESS IN A DATA-ENTRY TASK

被引:81
作者
HENNING, RA
SAUTER, SL
SALVENDY, G
KRIEG, EF
机构
[1] NIOSH, ROBERT A TAFT LABS, DIV BIOMED & BEHAV SCI, CINCINNATI, OH 45226 USA
[2] PURDUE UNIV, SCH IND ENGN, W LAFAYETTE, IN 47907 USA
[3] NIOSH, ROBERT A TAFT LABS, DIV BIOMED & BEHAV SCI, STAT UNIT, CINCINNATI, OH 45226 USA
关键词
D O I
10.1080/00140138908966848
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:855 / 864
页数:10
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