DETERMINATION OF PHASE-TRANSFORMATION DEPTH PROFILES WITH SYNCHROTRON RADIATION

被引：18

作者：

KEEFER, KD

MICHALSKE, TA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1111/j.1151-2916.1987.tb04972.x

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：227 / 231

页数：5

共 10 条

[1]

BIGGS F, 1971, SCRR710507 SAND NAT

[2]

Claussen N., 1981, ADV CERAM, V3, P137

GARVIE, RC ;

HANNINK, RHJ ;

SWAIN, MV .

[4]

KEEFER KD, IN PRESS

[5]

KOSMAC T, 1981, J AM CERAM SOC, V64, pC72, DOI 10.1111/j.1151-2916.1981.tb10285.x

[6]

LANGE FF, 1982, J MATER SCI, V17, P225, DOI 10.1007/BF00809057

[7] MECHANICS OF TRANSFORMATION-TOUGHENING IN BRITTLE MATERIALS [J].

MCMEEKING, RM ;

EVANS, AG .

[8]

MICHALSKE TA, IN PRESS

[9] CRYSTAL STRUCTURE OF TETRAGONAL ZRO2 [J].

TEUFER, G .

[10]

TORAYA H, 1984, J AM CERAM SOC, V67, pC119, DOI 10.1111/j.1151-2916.1984.tb19715.x