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ON THE BIAS OF GRAIN-SIZE MEASUREMENTS MADE IN THIN SECTION
被引:39
作者
:
CHAYES, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CHAYES, F
机构
:
来源
:
JOURNAL OF GEOLOGY
|
1950年
/ 58卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1086/625716
中图分类号
:
P5 [地质学];
学科分类号
:
0709 ;
081803 ;
摘要
:
引用
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页码:156 / 160
页数:5
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Thin-section mechanical analysis of indurated sediments
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机构:
Univ Chicago, Chicago, IL USA
Univ Chicago, Chicago, IL USA
Krumbein, WC
.
JOURNAL OF GEOLOGY,
1935,
43
(05)
:482
-496
[3]
LINEAR INTERCEPTS, AREAS AND VOLUMES
[J].
TOMKEIEFF, SI
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1945,
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