DIAGNOSTIC PROBE FOR INTENSE ELECTRON-BEAMS

被引：4

作者：

NASSISI, V ^{[1
]}

LUCHES, A ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV LECCE,IST FIS,I-73100 LECCE,ITALY

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1134899

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1400 / 1401

页数：2

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BOSCOLO, I ;

BRAUTTI, G ;

COISSON, R ;

LEO, M ;

LUCHES, A .

[2]

OKUN IZ, 1968, PRIB TEKH EKSP, P120

[3] SUBNANOSECOND RISETIME FLUXMETER [J].

PELLINEN, DG .