STRUCTURE OF ALGAAS/GAAS MULTILAYERS IMAGED IN SUPERLATTICE REFLECTIONS

被引：25

作者：

VINCENT, R ^{[1
]}

CHERNS, D ^{[1
]}

BAILEY, SJ ^{[1
]}

MORKOC, H ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ILLINOIS,COLL ENGN,COORDINATED SCI LAB,URBANA,IL 61801

来源：

关键词：

DEFECT ANALYSIS - MODULATION WAVELENGTH - SUPERLATTICE REFLECTIONS;

D O I：

10.1080/09500838708205241

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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