EFFECT OF PULSED FIELDS ON ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE

被引：3

作者：

GILLOT, L ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SHEFFIELD,DEPT PHYS,HICKS BLDG,SHEFFIELD S3 7RH,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 7卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/7/12/018

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1012 / 1014

页数：3

共 5 条

[1]

Brandon D. G., 1968, Field-ion microscopy, P28

[2] CONSTRUCTION AND PERFORMANCE OF AN FIM-ATOM PROBE [J].

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