MECHANICAL PRECISION REQUIRED IN ELECTROSTATIC ANALYSERS

被引：1

作者：

HOYAUX, M

GEETS, J

机构：

来源：

JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1954年 / 31卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1088/0950-7671/31/4/121

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：149 / 150

页数：2

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FOWLER, WA ;

LAURITSEN, CC ;

LAURITSEN, T .

[2] Ion and electron-cylindrical lenses and prisms. I. [J].

Herzog, Richard .

ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1934, 89 (7-8) :447-473

[3] ELECTROSTATIC ANALYZER FOR SELECTION OF HOMOGENEOUS ION BEAM [J].

WARREN, RE ;

POWELL, JL ;

HERB, RG .