ABSOLUTE DISTANCE MEASUREMENTS BY VARIABLE WAVELENGTH INTERFEROMETRY

被引：40

作者：

BIEN, F ^{[1
]}

CAMAC, M ^{[1
]}

CAULFIELD, HJ ^{[1
]}

EZEKIEL, S ^{[1
]}

机构：

[1] MIT,CAMBRIDGE,MA 02139

来源：

APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.20.000400

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：400 / 403

页数：4

共 9 条

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