SPECIMEN CONTAMINATION IN ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY - SOURCES AND SOLUTIONS

被引：38

作者：

HREN, JJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/S0304-3991(78)80057-6

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：375 / 380

页数：6

共 21 条

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