APPLICATION OF THE DOUBLE SLIT INTERFEROMETER TO THE MEASUREMENT OF PHASE SHIFT OF LIGHT TRANSMITTED THROUGH THIN FILMS

被引：10

作者：

ISIGURO, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.5.187

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：187 / 192

页数：6

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共 8 条

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