QUANTITATIVE PHASE-ANALYSIS OF SI3N4 BY X-RAY-DIFFRACTION

被引：60

作者：

PIGEON, RG ^{[1
]}

VARMA, A ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV NOTRE DAME,DEPT CHEM ENGN,NOTRE DAME,IN 46556

来源：

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS | 1992年 / 11卷 / 20期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00729365

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

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页码：1370 / 1372

页数：3

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共 4 条

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