COMMENTS ON EXPERIMENTAL-MEASUREMENT OF MICROSTRIP TRANSISTOR PACKAGE PARASITIC REACTANCES

被引：1

作者：

BENEKING, H

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES | 1978年 / 26卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TMTT.1978.1129305

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

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共 4 条

[1] EXPERIMENTAL-MEASUREMENT OF MICROSTRIP TRANSISTOR-PACKAGE PARASITIC REACTANCES [J].

AKELLO, RJ ;

EASTER, B ;

STEPHENSON, IM .

IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, 1977, 25 (05) :367-372

[2]

BENEKING H, 1973, NOV EUR SPEC SEM ACT

[3]

Piller U., 1974, 4th European Microwave Conference, P61, DOI 10.1109/EUMA.1974.332012

[4]

PILLER U, 1973, THESIS RWTH AACHEN