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EFFECT OF STRUCTURE ON PIEZORESISTIVE PROPERTIES OF THIN METAL FILMS
被引:18
作者
:
KNIGHT, MJ
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KNIGHT, MJ
机构
:
来源
:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
|
1969年
/ 6卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1116/1.1315736
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:706 / &
相关论文
共 3 条
[1]
KNIGHT MJ, 1966, JUL C APPL THIN FILM
[2]
MIEKSIN ZH, 1967, J APPL PHYS, V38, P4490
[3]
ELECTRICAL RESISTANCE-STRAIN CHARACTERISTICS OF THIN EVAPORATED METAL FILMS
PARKER, RL
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PARKER, RL
KRINSKY, A
论文数:
0
引用数:
0
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0
KRINSKY, A
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1963,
34
(09)
: 2700
-
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共 3 条
[1]
KNIGHT MJ, 1966, JUL C APPL THIN FILM
[2]
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ELECTRICAL RESISTANCE-STRAIN CHARACTERISTICS OF THIN EVAPORATED METAL FILMS
PARKER, RL
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KRINSKY, A
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34
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