EASY METHOD TO ACCURATELY ALIGN ION-BOMBARDMENT GUNS FOR DEPTH PROFILING IN AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY

被引：17

作者：

SPRINGER, RW

HAAS, TW

GRANT, JT

HOOKER, MP

机构：

[1] USN,AEROSP RES LABS,WRIGHT PATTERSON AFB,OH 45433

[2] UNIVERSAL ENERGY SYST INC,MEDWAY,OH 45341

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 45卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1686821

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页码：1113 / 1114

页数：2

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共 3 条

[1] ION EXCITED AUGER-SPECTRA OF ALUMINUM [J].

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