THE ELECTRON WAVEFUNCTION IN THE VICINITY OF A PLANAR DEFECT ON EDGE

被引：7

作者：

HERREMANS, W ^{[1
]}

GEVERS, R ^{[1
]}

DAVID, M ^{[1
]}

机构：

[1] CEN SCK,B-2400 MOL,BELGIUM

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1980年 / 59卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210590218

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：557 / 568

页数：12

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共 5 条

[1]

Amelinckx S., 1970, Modern diffraction and imaging techniques in material science, P257

[2]

DAVID M, 1979, THESIS U BRUSSELS

[3]

GEVERS R, 1972, METHODES TECHNIQUES, P145

[4]

HIRSCH PB, 1965, ELECTRON MICROSCOPY

[5]

Wilson H. H., 1971, ORDINARY DIFFERENTIA