X-RAY DIFFRACTION DATA FROM SINGLE CRYSTALS AT 20 DEGREES K

被引：1

作者：

FORRESTER, J

机构：

来源：

JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1961年 / 38卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1088/0950-7671/38/4/312

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：153 / &

共 6 条

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