NYQUIST-LIKE TEST FOR STABILITY OF 2-DIMENSIONAL DIGITAL-FILTERS

被引：5

作者：

DECARLO, R ^{[1
]}

SAEKS, R ^{[1
]}

MURRAY, J ^{[1
]}

机构：

[1] TEXAS TECH UNIV,DEPT ELECT ENGN,LUBBOCK,TX 79409

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1977年 / 65卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1977.10596

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：978 / 979

页数：2

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共 2 条

[1]

DECARLO RA, TO BE PUBLISHED

[2]

GOODMAN D, TO BE PUBLISHED