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MECHANICALLY INDUCED SURFACE DAMAGE IN GALLIUM ARSENIDE
被引:3
作者
:
LAISTER, D
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0
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0
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0
LAISTER, D
JENKINS, GM
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0
JENKINS, GM
机构
:
来源
:
SOLID-STATE ELECTRONICS
|
1970年
/ 13卷
/ 08期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0038-1101(70)90131-0
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:1200 / &
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BUIOCCHI CJ, 1967, J APPL PHYS, V38, P1880
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