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ASSESSMENT OF A NEW METHOD FOR DIFFERENTIAL PULSE POLAROGRAPHIC-DETERMINATION OF SILICON IN STEEL
被引:20
作者
:
FOGG, AG
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0
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0
h-index:
0
FOGG, AG
OSAKWE, AA
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0
OSAKWE, AA
机构
:
来源
:
TALANTA
|
1978年
/ 25卷
/ 04期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0039-9140(78)80010-1
中图分类号
:
O65 [分析化学];
学科分类号
:
070302 ;
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:226 / 228
页数:3
相关论文
共 2 条
[1]
PULSE POLAROGRAPHIC-DETERMINATION OF NANOGRAM AMOUNTS OF SILICON
FOGG, AG
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
FOGG, AG
OSAKWE, AA
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
OSAKWE, AA
[J].
ANALYTICAL LETTERS,
1976,
9
(01)
: 23
-
32
[2]
1970, BS19 BRIT STAND I HD
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共 2 条
[1]
PULSE POLAROGRAPHIC-DETERMINATION OF NANOGRAM AMOUNTS OF SILICON
FOGG, AG
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
FOGG, AG
OSAKWE, AA
论文数:
0
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0
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0
机构:
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
LOUGHBOROUGH UNIV TECHNOL,CHEM DEPT,LOUGHBOROUGH,LEICESTERSHIRE,ENGLAND
OSAKWE, AA
[J].
ANALYTICAL LETTERS,
1976,
9
(01)
: 23
-
32
[2]
1970, BS19 BRIT STAND I HD
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