INVERTER HARDNESS PREDICTIONS AND CORRELATION WITH LSI DEVICE FAILURE DOSES

被引：2

作者：

BRUCKER, GJ

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1980年 / 27卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1980.4331091

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1700 / 1703

页数：4

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共 2 条

[1]

HOLLINGSWORTH RJ, 1978, IEEE J SOLID STATE C, V13

[2]

MAXIMOW B, 1978, GOMAC C REPORT, P277