APPLICATION OF STEREO-TECHNICS TO ELECTRON MICROGRAPHS

被引：20

作者：

HUDSON, B ^{[1
]}

机构：

[1] ATOM ENERGY RES ESTABL,MET DIV,BLDG 401 8,HARWELL,BERKSHIRE,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1973年 / 98卷 / AUG期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1973.tb03842.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：396 / 401

页数：6

共 7 条

[1]

BUCKLEY SN, 1972, PRIVATE COMMUNICATIO

[2]

Foreman A. J. E., 1972, RAD EFFECTS, V14, P175, DOI DOI 10.1080/00337577208231197

[3] OPTIMUM TILT ANGLE FOR ELECTRON STEREO-MICROSCOPY [J].

HUDSON, B ;

MAKIN, MJ .

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1970, 3 (04) :311-&

MAHER, DM ;

EYRE, BL ;

BARTLETT, AF .

PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 1971, 24 (190) :745-&

[5]

NANKIVELL JF, 1963, OPTIK, V20, P172

[6]

1971, VOIDS FORMED IRRADIA

[7]

1971, RADIATION INDUCED VO