FIELD ELECTRON MICROSCOPE FOR MEASUREMENT OF EMISSION FROM SINGLE CRYSTAL FACES

被引：2

作者：

BERMOND, JM

BEL, F

机构：

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1970年 / 5卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0197000504064900

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：649 / &

共 7 条

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