LIFE TEST STUDIES ON TUNGSTEN IMPREGNATED CATHODES

被引：6

作者：

FORMAN, R ^{[1
]}

ELMER, P ^{[1
]}

机构：

[1] WATKINS JOHNSON CO,PALO ALTO,CA 94304

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1980年 / 27卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1980.20030

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1309 / 1310

页数：2

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共 1 条

[1] THERMIONIC CATHODE LIFE-TEST STUDIES [J].

FORMAN, R ;

SMITH, DH .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 1979, 26 (10) :1567-1572