SECONDARY-ION COLLECTION SYSTEM FOR AN ION MICROPROBE ANALYZER OF HIGH MASS RESOLUTION

被引：8

作者：

KROHN, VE

RINGO, GR

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1685560

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1771 / &

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共 5 条

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