SIGNAL-TO-NOISE RATIO OF ELECTRON MICROGRAPHS OBTAINED BY CROSS-CORRELATION

被引:147
作者
FRANK, J [1 ]
ALALI, L [1 ]
机构
[1] CAVENDISH LAB,CAMBRIDGE,ENGLAND
关键词
D O I
10.1038/256376a0
中图分类号
O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];
学科分类号
07 ; 0710 ; 09 ;
摘要
引用
收藏
页码:376 / 379
页数:4
相关论文
共 16 条
  • [1] WIRKUNGSQUERSCHNITTE FUR ELASTISCHE UND UNELASTISCHE ELEKTRONENSTREUUNG AN AMORPHEN KOHLENSTOFF- UND GERMANIUMSCHICHTEN
    BRUNGER, W
    MENZ, W
    [J]. ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1965, 184 (03): : 271 - &
  • [2] FRANK J, 1973, OPTIK, V38, P519
  • [3] FRANK J, 1970, BERICH BUNSEN GESELL, V74, P1105
  • [4] FRANK J, IN PRESS
  • [5] Goodman J. W., 2005, INTRO FOURIER OPTICS
  • [6] HANSSEN KJ, 1971, OPTIK, V32, P519
  • [7] HANSSEN KJ, 1971, OPTIK, V33, P182
  • [8] Hanszen K. J., 1971, ADV OPTICAL ELECT MI, VIV, P1
  • [9] KRAKOW W, 1974, OPTIK, V40, P1
  • [10] LANGER R, 1970, BERICH BUNSEN GESELL, V74, P1120