STEREOMETRY AS AN AID TO STEREOLOGICAL ANALYSIS

被引：5

作者：

HOWELL, PGT

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1980年 / 118卷 / FEB期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1980.tb00263.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：217 / 220

页数：4

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