PRACTICAL PEAK AREA MEASUREMENTS IN X-RAY PHOTO-ELECTRON SPECTROSCOPY

被引：62

作者：

BISHOP, HE

机构：

来源：

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS | 1981年 / 3卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1002/sia.740030608

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

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页码：272 / 274

页数：3

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共 2 条

[1] Seah M. P., 1980, Surface and Interface Analysis, V2, P222, DOI 10.1002/sia.740020607
[2] HIGH-RESOLUTION X-RAY PHOTOEMISSION SPECTRUM OF VALENCE BANDS OF GOLD
SHIRLEY, DA
[J]. PHYSICAL REVIEW B, 1972, 5 (12): : 4709 - &