学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
On a double hump phenomenon of current through a bridge across parallel lines
被引:1
作者
:
Takagishi, E
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Minist Commun, Electrotech Lab, Tokyo, Japan
Minist Commun, Electrotech Lab, Tokyo, Japan
Takagishi, E
[
1
]
机构
:
[1]
Minist Commun, Electrotech Lab, Tokyo, Japan
来源
:
PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF RADIO ENGINEERS
|
1930年
/ 18卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1109/JRPROC.1930.222027
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:0513 / 0532
页数:20
相关论文
共 1 条
[1]
1925, P IRE, V13, P125
←
1
→
共 1 条
[1]
1925, P IRE, V13, P125
←
1
→