COMPARISON OF 3 DEVICES FOR MEASURING SECOND DERIVATIVE OF A LANGMUIR PROBE CURVE

被引：25

作者：

LUIJENDIJK, SC

ECK, JV

机构：

来源：

PHYSICA | 1967年 / 36卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1016/0031-8914(67)90079-1

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：49 / +

页数：1

共 8 条

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