APPLICATION OF SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY TO STUDY OF THIN FERROMAGNETIC-FILMS

被引：7

作者：

CHAPMAN, JN ^{[1
]}

DARLINGTON, EH ^{[1
]}

机构：

[1] CAVENDISH LAB, FREE SCH LANE, CAMBRIDGE, ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 7卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/7/3/014

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：181 / 182

页数：2

共 6 条

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