DELAY TIME STUDIES AND ELECTRON-MOBILITY MEASUREMENT IN AN A-SI-H TFT

被引：6

作者：

BASHIR, R

SUBRAMANIAN, CK

NEUDECK, GW

CHUNG, KY

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/16.40960

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：2944 / 2948

页数：5

共 6 条

[1]

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