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COMPARISON OF LEED AND AUGER DATA FROM CLEAVED AND SPUTTERED-ANNEALED INP(110) SURFACES
被引：41
作者：
TSANG, JC
KAHN, A
MARK, P
机构：
关键词：
D O I：
10.1016/0039-6028(80)90108-9
中图分类号：
O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];
学科分类号：
070304 ;
081704 ;
摘要：
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页数：9
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