FAILURE MODES OF INTEGRATED CIRCUITS AND THEIR RELATIONSHIP TO RELIABILITY

被引：12

作者：

WORKMAN, W

机构：

来源：

MICROELECTRONICS RELIABILITY | 1968年 / 7卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(68)90018-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：257 / &

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