STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF AMORPHOUS-SILICON MULTILAYER INTERFACES

被引:9
作者
MIYAZAKI, S
KOHDA, Y
HAZAMA, Y
HIROSE, M
机构
关键词
D O I
10.1016/0022-3093(89)90716-3
中图分类号
TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
引用
收藏
页码:774 / 776
页数:3
相关论文
共 6 条