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MEASUREMENT OF SAMPLE TEMPERATURES REACHED DURING PROTON AND ALPHA-PARTICLE IRRADIATION OF THIN PIXE TARGETS
被引:7
作者
:
HILL, MW
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机构:
BRIGHAM YOUNG UNIV,DEPT CHEM,PROVO,UT 84602
HILL, MW
HANSEN, LD
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MANGELSON, NE
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FAUCETTE, KJ
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EATOUGH, DJ
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CAHILL, TA
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KUSKO, B
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BRIGHAM YOUNG UNIV,DEPT CHEM,PROVO,UT 84602
KUSKO, B
机构
:
[1]
BRIGHAM YOUNG UNIV,DEPT CHEM,PROVO,UT 84602
[2]
BRIGHAM YOUNG UNIV,INST THERMOCHEM,PROVO,UT 84602
[3]
UNIV CALIF DAVIS,DEPT PHYS,DAVIS,CA 95616
来源
:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS
|
1981年
/ 181卷
/ 1-3期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0029-554X(81)90582-6
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
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相关论文
共 2 条
[1]
INACCURACIES ENCOUNTERED IN SULFUR DETERMINATION BY PARTICLE INDUCED X-RAY-EMISSION
[J].
HANSEN, LD
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RYDER, JF
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ANALYTICAL CHEMISTRY,
1980,
52
(06)
:821
-824
[2]
SHAW RW, 1978, ELECTRON MICROS, P51
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INACCURACIES ENCOUNTERED IN SULFUR DETERMINATION BY PARTICLE INDUCED X-RAY-EMISSION
[J].
HANSEN, LD
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EATOUGH, DJ
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BRIGHAM YOUNG UNIV,DEPT PHYS,PROVO,UT 84602
EATOUGH, DJ
.
ANALYTICAL CHEMISTRY,
1980,
52
(06)
:821
-824
[2]
SHAW RW, 1978, ELECTRON MICROS, P51
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