MEASUREMENT AND CHARACTERIZATION OF VOLTAGE-INDUCED AND CURRENT-INDUCED DEGRADATION OF THIN-FILM PHOTOVOLTAIC MODULES

被引：8

作者：

ROSS, RG

MON, GR

WEN, LC

SUGIMURA, RS

机构：

来源：

SOLAR CELLS | 1989年 / 27卷 / 1-4期

关键词：

D O I：

10.1016/0379-6787(89)90037-9

中图分类号：

TE [石油、天然气工业]; TK [能源与动力工程];

学科分类号：

0807 ; 0820 ;

摘要：

引用

页码：289 / 298

页数：10

共 16 条

[1]

Black J. R., 1974, P 12 INT REL PHYS S, P142

[2]

DHEURLE FM, 1978, THIN SOLID FILMS INT

[3]

DHUERLE FM, 1971, P IEEE, V59, P1409

[4]

GONZALEZ CC, 1987, 157 AIP C P STAB AM, P342

[5]

Huntington H. B., 1975, DIFFUSION SOLIDS

[6]

JORDAN RG, 1974, CONTEMP PHYS, V15, P375, DOI 10.1080/00107517408210798

[7]

Mon G. R., 1985, 18 IEEE PHOT SPEC C, P1142

[8]

MON GR, 1989, 20TH P IEEE PHOT SPE, P1098

[9]

MON GR, 1987, 19TH P IEEE PHOT SPE, P1090

[10]

MON GR, 1989, 20TH P IEEE PHOT SPE, P108